光学与光电技术

aoi光学检测系统,aoi检测算法有哪些 

来源:光学与光电技术 【在线投稿】 栏目:综合新闻 时间:2021-02-11

什么是AOI

自动光学检测(automated optical inspection, AOI)技术,也称为机器视觉检测(machine vision inspection, MVI)技术或自动视觉检测(automated visual inspection, AVI)技术。在有些行业,如平板显示、半导体、太阳能等制造行业,AOI这一术语更加流行,被人知晓。但是AOI和MVI/AVI在概念和功能上还是有细微差别的。

从狭义上来说,MVI是一种集成了图像传感技术、数据处理技术、运动控制技术,在工业生产过程中,执行测量、检测、识别和引导等任务的一种新兴的科学技术。MVI的基本原理可用图 1 来表示,它采用光学成像方法(如相机,或者一个复杂的光学成像系统)模拟人眼的的视觉成像功能,用计算机处理系统代替人脑执行数据处理,最后把结果反馈给执行机构(如机械手)代替人手完成各种规定的任务。

AOI算法

1.5AOI图像对比算法

图像对比即设定一个标准的模板与目标进行对比分析,是目前采用的最为广泛的一种外观检查方式,其原理是通过RGB通道值和像素值的元素按照一种数学计算方式来得到结果。

AOI统计建模图像对比

近年来,将统计建模应用到AOI领域最先由神州视觉ALeader AOI提出,统计建模图像对比即在制作标准图像的时候通过学习一系列OK图像的样本,分别提取各种图像的变化特征,最终生成一个综合标准图像及参数标准图像。总之,我们无法判断和定论各种算法孰优孰劣,但我们完全可以相信,任何单一的算法是根本解决不了SMT装配的所有不可预知的工艺问题的。因此取各种算法的长处用以对口检测正成为AOI领域的研究课题。

2.0 AOI多算法对口的检测技术

欲采用不同的算法对口不同的检测项目,必须了解什么样的算法最合适某个部位检查,有了这个前提,才能对演算法进行严谨的实验和训练,下面的文章将以ALeader AOI为例一一进行解析。神州视觉ALeader AOI早期的ALD-H-350系列设备是单一的统计建模图像对比技术,运用这种技术的优势是使用简单、人为影响的因素低,缺点是需要进行反复的学习模板。自ALeader AOI 5系列6系列以来,就完全摒弃了单一的处理模式,采用了多种算法结合的方式。在ALeader AOI当中,对一个电阻进行检测会自动分为四个部分进行检测,自动生成四个检测框,分别是两端的焊点(焊盘部分)、元件本体、字符丝印。

1、元件本体:采用统计建模图像比对方式进行检测。

2、丝印字符:采用OCV字符校验技术进行检测。

3、焊盘部分:采用OCV字符校验技术进行检测。

2.1图像对比是如何知道结果的?

图像对比是以数字信号为基础,通过数学方式计算得来。任何一副图片都经过图像采集卡进行了数字转化,下图中每个方格便是对应的像素值,通过标准图片的值与待测图片的值比较,在规定的范围内便OK,超过则视为NG。

2.2ALeader AOI统计建模的原理是什么?

统计建模是通过统计一系列OK图像的样本,最终生成了图片的基本信息模板和参数标准的模板,在统计建模的过程中基本解决三个问题:待测物体大概像什么?装配过程中会发生什么变化?它会变化到什么程度?

2.3 OCV字符检验技术

使用OCV字符校验技术对电阻、三极管、二极管、IC、BGA的丝印检验,不需要进行学习,自动识别其轮廓的相似度。以字符“8”为例,首先对图片进行滤除红色灰度化,再调整亮度与对比度,图片相对处理较清晰时进行二值化闭合运算,再对图形进行SOBEL边缘检测,将图形的毛刺及边缘做处理,最后通过一种数学拟合的方法,将边缘圆形转化为二维三次函数将圆形的特征用参数a、b、c、d、e、f、g、h、i、j表示。数学拟合可通过下式等到:ax3+by3+cx2y+dxy2+ex2+fy2+gxy+hx+iy+j=0

2.4短路检测(垂直通路投影技术)

检测短路(两个焊点间的锡膏桥接),可以通过图像对比的方式实现,且效果不错,但误判较高,实验证明采用垂直投影的方法不用对标准图片进行学习建模,其次有较高的检出率和较低的误判率。

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